帶溫度補償功能的面銅測厚儀CMI-165

CMI165是一款人性化設計、堅固耐用的世界帶溫度補償功能的手持式銅箔測厚儀。

- 可測試高溫的PCB銅箔
- 顯示單位可為mils，μm或oz
- 可用于銅箔的來料檢驗
- 可用于蝕刻或整平后的銅厚定量測試
- 可用于電鍍銅后的面銅厚度測試
- 配有SRP-T1，帶有溫度補償功能的面銅測試頭
- 可用于蝕刻后線路上的面銅厚度測試

SRP-T1：CMI165可更換探針

牛津儀器工業分析部研發的SRP-T1探頭，綜合運用微電阻原理及溫度補償技術，使其成為世界上推出帶溫度補償功能的銅箔測厚儀的制造商。

SRP-4：可更換探針
（號：7,148,712）

CMI563和CMI760使用的探頭SRP-4是牛津儀器工業分析部研發的具有世界水平的探頭，它利用微電阻原理測量表面銅箔厚度。SRP-4探頭堅固耐用，同時SRP-4探頭能適應微小的測試面積，實用十分方便。

·SRP-4探針可更換

·探針如損壞，可現場及時更換，操作簡單，zui大限度降低設備的停用時間

·探針可更換的特點降低了更換整個探頭的成本

一站式服務：我們全面的產品系列為您對PCB/PWB和面銅厚度測量需求提供完整解決方案！

CMI95M
銅箔檢測儀

CMI165
帶溫度補償功能的PCB面銅測厚儀

CMI511
帶溫度補償功能的孔銅測厚儀